Silicon Carbide Substrates|SiC Wafers

Substratên Silicon Carbide|Wêneyên Taybetmendî yên SiC Wafers

Kurte Danasîn:

WeiTai Energy Technology Co, Ltd.Em ji bo hilberîna nîvconductor, pîşesaziya fotovoltaîk û warên din ên têkildar re hilberên kalîteya bilind, pêbawer û nûjen peyda dikin.

Rêzeya hilberê me hilberên grafît û hilberên seramîk ên bi sic/TaC ve girêdayî ye, ku ji materyalên cihêreng ên wekî karbîd silicon, silicon nitride, û oxide aluminium û hwd vedihewîne.

Heya nuha, em hilberînerê yekane ne ku paqijiya 99.9999% SiC û 99.9% karbîdê siliconê ji nû ve kristalkirî peyda dike.Dirêjahiya nixumandina SiC ya herî zêde em dikarin 2640 mm bikin.

E-nameyê ji me re bişînin

Detail Product

Tags Product

Karbîd silicon (SiC) materyalê yek krîstal xwedan firehiya valahiya bandê ya mezin (~ Si 3 caran), guheztina germî ya bilind (~ Si 3,3 car an GaAs 10 carî), rêjeya koçberiya têrbûna elektronê ya bilind (~ Si 2,5 carî), elektrîkê hilweşîna bilind zeviyê (~ Si 10 car an GaAs 5 carî) û taybetmendiyên din ên berbiçav.

Amûrên SiC di warê germahiya bilind, tansiyona bilind, frekansa bilind, amûrên elektronîkî yên hêza bilind û serîlêdanên hawîrdorê yên giran ên wekî hewa fezayê, leşkerî, enerjiya nukleerî, hwd. de, di pratîkê de kêmasiyên amûrên materyalê yên nîvconductor yên kevneşopî çêdike. sepanan, û hêdî hêdî dibin serweriya nîvconduktorên hêzê.

4H-SiC Taybetmendiyên substratê karbîd silicon

Item项目	Specifications参数
Polytype 晶型	4H -SiC	6H- SiC
Çap 晶圆直径	2 inç \|3 inç \|4 inç \|6 inch	2 inç \|3 inç \|4 inç \|6 inch
Qewîtî 厚度	330 μm ~ 350 μm	330 μm ~ 350 μm
Conductivity 导电类型	N – cure / Semi-insulating N型导电片/ 半绝缘片	N – cure / Semi-insulating N型导电片/ 半绝缘片
Dopant 掺杂剂	N2 (Nîtrojen) V (Vanadyûm)	N2 (Azot) V (Vanadyûm)
Orientation 晶向	Li ser eksê <0001> Jêderê <0001> ji 4°	Li ser eksê <0001> Jêderê <0001> ji 4°
Berxwedan 电阻率	0,015 ~ 0,03 ohm-cm (4H-N)	0,02 ~ 0,1 ohm-cm (6H-N)
Density Micropipe (MPD) 微管密度	≤10/cm2 ~ ≤1/cm2	≤10/cm2 ~ ≤1/cm2
TTV 总厚度变化	≤ 15 μm	≤ 15 μm
Bow / Warp 翘曲度	≤25 μm	≤25 μm
Rû 表面处理	DSP / SSP	DSP / SSP
Sinif 产品等级	Hilberîn / Pola lêkolînê	Hilberîn / Pola lêkolînê
Crystal Stacking Sequence 堆积方式	ABCB	ABCABC
Parametreya latê 晶格参数	a=3.076A, c=10.053A	a=3.073A, c=15.117A
Mînak/eV (Band-gap) 禁带宽度	3,27 eV	3,02 eV
ε (Dîelektrîk Constant) 介电常数	9.6	9.66
Indeksa Refraction 折射率	n0 =2.719 ne =2.777	n0 =2.707, ne =2.755

Taybetmendiyên substratê Silicon Carbide 6H-SiC

Item项目	Specifications参数
Polytype 晶型	6H-SiC
Çap 晶圆直径	4 inç \|6 inch
Qewîtî 厚度	350μm ~ 450μm
Conductivity 导电类型	N – cure / Semi-insulating N型导电片/ 半绝缘片
Dopant 掺杂剂	N2 (Azot) V (Vanadium)
Orientation 晶向	<0001> daket 4°± 0,5°
Berxwedan 电阻率	0,02 ~ 0,1 ohm-cm (Tîpa 6H-N)
Density Micropipe (MPD) 微管密度	≤ 10/cm2
TTV 总厚度变化	≤ 15 μm
Bow / Warp 翘曲度	≤25 μm
Rû 表面处理	Rûyê Si: CMP, Epi-Amade ye C Rû: Polonî ya optîkî
Sinif 产品等级	Dereceya lêkolînê